Verigy,93000中直流参数的并行测试方法_超材料参数测试方法

　　摘要：本文阐述了一种在verigy　93000上进行直流参数测试的测试方法，并与传统方法进行了比较分析，结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源，使测试时间有效降低。
　　关键词：DC测试；Verigy 93000；F1ex DC；测试方法
　　
　　1、引言
　　
　　在当前SoC快速发展及半导体行业激烈竞争的阶段，提高测试效率、降低测试成本，是从业者需要思考和解决的课题。
　　verigy 93000是单一平台的可升级测试系统，它是满足SoC技术全面集成需要的芯片测试系统解决方案。
　　本论文阐述一种测试方法使得Verigy 93000进行直流参数测试时独立并行使用硬件资源，从而节省测试时间，提高测试效率。
　　
　　2、Verigy 93000用于DC测试的硬件资源
　　
　　2.1、PMU(Darameter measure unit，参数测量单元)
　　
　　PMU是Verigy 93000进行DC测试最常用的硬件资源(如图1所示)。当前应用最广泛的Pinscale测试系统中的PMU有两种，一种称为PPMU(Per-Pin PMU)，包含在每个数字通道内。根据测试系统的配置结构，大头可以达到2048个，小头1024个；另一种HPPMU(High Precision PMU，高精度PMU)，每个Group中一个，大头有8个，小头结构就只有4个。因此在测试中，只要PPMU的参数范围和精度满足芯片需求，我们尽可能使用PPMU，并通过合适的编程方法做到硬件资源完全并行使用，加快测试速度。
　　
　　2.2、Vetigy 93000的DPS(DevicePower Suppoly，芯片供电电源)资源
　　
　　Verigy 93000中每块DPS板卡可以提供8路电源通道，电源通道除了给芯片提供电源外，还具有加电压测电流的功能，这通常用于芯片的功耗测试。本文不就此类测试展开讨论。
　　
　　
　　3、PPMU资源完全并行使用的测试方法
　　
　　PPMU是Verigy 93000中每一个数字通道都有的硬件资源，它具有加电压测电流(VFIM)和加电流测电压(IFVM)两种功能。应用这两种功能进行DC测试，通常有两种实现方法。
　　1)传统方法：通过调用PPMU相应的API(可编程应用接口)PMU_VFIM(加电压测电流)和PMU_IFVM(加电流测电压)来实现。但应用这种方法进行测试时，如果不同的管脚需要不同的测试条件，测试时每个管脚是串行执行的，这样机台per-pin的PMU资源的优势就没有得到最好发挥，测试时间会相应增加。
　　2)Flex DC测试方式：可以做到使用PPMU测试不同条件的PIN时完全独立，互不影响。因此，在使用PMU进行DC测试时，为了提高测试效率，增加产出，在测试条件允许的情况下，测试者尽可能采用这种方法。
　　两种方法的比较如表1所示。
　　
　　
　　3.1、FIex DC编程方式的具体实现
　　
　　Flex DC测试方法在程序中通过PPMU_SETTING、PPMU_RELAY、PPMU_MEASURE以及TASK_LIST创建任务列表的方法来实现。此时，我们需要把不同测试条件的PIN对应的PPMU的工作模式及条件范围、RELAY的状态、测试结果的获取分别设定为相同的SETTING、RELAY和MEASURE中，然后把上述设定添加到同一个任务列表中。这样，对于上述SETTING、RELAY和MEASURE中的不同pin包含的动作，机台在执行测试的过程中是完全独立并行的，可以做到资源的最优利用。
　　以2个pin为例，pinl测试中需施加5V电压测电流，pin2要施加2.5V电压测电流，Flex DC的代码如下：
　　
　　以一款电源芯片为例，该芯片大部分为DC测试项，另加小部分功能测试。下面我们来看测试中采用Flex DC测试方法和直接采用PPMU_IFVM进行测试，测试时间的对比情况。(如表2所示)
　　
　　表中对比可以看出，如不对测试程序进行优化，单芯片测试时相差0.6s，双芯片同时测试相差0.9s；对测试程序进行优化(主要针对多芯片测试，使不同位置的芯片测试中能并行进行的动作同时执行)，时间差值就更明显，单芯片为0.9 s，双芯片达1.6s。可见，采用Flex DC的测试方式，可以有效减少测试时间。
　　
　　4、小结
　　
　　结合Verigy 93000 SoC测试机台的特点，讨论了一种DC测试资源的并行使用方法。结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源，使测试时间有效降低。