【超大规模集成电路设计中漏泄功耗的最小化和开发利用】集成电路功耗大吗

　　超大规模集成电路(VLSI)的耗电量一直以惊人的速度增长。随着耗电量以及对便携式/手持式电子产品需求的不断增加,功率消耗成为VLSI电路设计中的主要问题。以往的电路设计中,动态(开关)电源是IC总功耗的主体,目前漏泄功耗已经成为在VLSI电路总功率消耗的重要组成部分。因此,降低漏泄功率对便携式/如手机及PDA的手持式电子产品尤其重要。
　　本书介绍了利用数字集成电路芯片减少漏泄功耗的新技术,提出了关于集成电路设计中电力问题的有益结论。全书除第1章引言外,由三部分组成。第一部分介绍了几种减少电路中的漏泄的方法,包括第2-8章,2.已有的减少漏泄的方法;3.计算漏泄电流分布;4.利用随机PVT变化信号可能性找到极少漏泄载体;5.HL方法一一种低漏泄ASIC设计方法;6.同时输入矢量控制和电路改变;7.减小漏泄的最佳反向偏置电压;8.总结和未来方向。第二部分介绍了如何将漏泄问题转变为一个机会,使设计产品对变化具有鲁棒性,包括第9-13章,9.利用漏泄:亚阈值回路设计;10.补偿PVT变化的自适应体偏差;11.最少能量的优化VDD;12.利用微型流水线操作回收亚阈值速度惩罚;13.结论和未来发展方向。第三部-分基于第二部分提出的想法,介绍了设计和实施亚阈值集成电路的细节,包括第14-16章,14.芯片设计;15.芯片执行;16.实验结果。
　　全书由多位集成电路设计领域专家共同编写而成,其中,Nikhil Jayakumar目前担任瞻博网络(Juniper Networks)公司设计工程师,长期从事VLSI产品设计;Suganth Paul目前任职于Intel公司,担任部件设计工程师;其他编者也都是电路设计方面的专家,具有丰富的工程经验。
　　本书适合于集成电路设计工程师阅读,能够对小功率电路设计的研究者有所启发。